防燥音高低溫低氣壓試驗(yàn)儀 特點(diǎn)：

1. 平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)（BTHC）,以P.I.D.方式控制SSR,使工作室內(nèi)保持一定的壓

   力，并采用智能型數(shù)字溫度調(diào)節(jié)儀進(jìn)行溫度的顯示與控制設(shè)定，故能長期穩(wěn)定

   使用.

2. 全新*的造型設(shè)計，外觀高質(zhì)感水平,系統(tǒng)提取日本、西德精良技術(shù)之精華設(shè)

   計制造.

3. 采用全毛細(xì)管,自動負(fù)載容量調(diào)整系統(tǒng)技術(shù),較膨脹伐系統(tǒng)更穩(wěn)定可靠,使高低溫

   自由轉(zhuǎn)換、設(shè)置、顯示更加精確，升降溫速度快速、平穩(wěn)、均勻，為使用者節(jié)

   約寶貴時間.

防燥音高低溫低氣壓試驗(yàn)儀

詳細(xì)介紹：

國防工業(yè)，航天工業(yè)自動化零組件，汽車部件，電子、電器零組件，塑料、化工業(yè)，食品業(yè)，制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品在高低溫低氣壓單項或同時作用下，模擬高海拔、高空、（高原地區(qū)）氣候進(jìn)行貯存運(yùn)用、運(yùn)輸可靠性試驗(yàn)，并可同時對試件通電進(jìn)行電氣性能參數(shù)的測試。

電源要求：

1.設(shè)備使用電源: AC 1∮3W 220V 50HzAC 或3∮5W 380V 50Hz；電壓變動充許值: 定格電壓的±10%.

高低溫低氣壓實(shí)驗(yàn)機(jī)性能:

1. 溫度范圍: -70~ 150℃/-50~ 150℃/-40~ 150℃/-20~ 150℃/0~ 150℃

2. 控制穩(wěn)定度 ： ±0.5℃

3. 分布均勻度 ：±1.5℃

4. 正常升溫時間 ： 20℃~ 150℃小于40分鐘非線性空載。

5. 正常降溫時間： 20~—40℃小于60分鐘.非線性空載.

6. 溫度波動度: ±0.5℃.

7. 溫度均勻度: ±1.5℃.

8. 氣壓范圍：常壓（1.01325×105 Pa）～0.5kPa

u 壓力偏差：當(dāng)常壓～壓力≥40kPa時，誤差 ≤±2.0kPa；

u 當(dāng) 2kPa≤壓力＜40kPa時，誤差≤±5％；

u 當(dāng)壓力≤2kPa～0.5kPa時，誤差 ≤±0.1kPa；

u 降壓速率: 常壓~0.5KPa ≤45min（常溫、箱內(nèi)干燥）

u 壓力恢復(fù)速率: ≤10kpa/min；

9. 測時間設(shè)置：0～99.59 Hr.

高低溫低氣壓實(shí)驗(yàn)機(jī)結(jié)構(gòu)

1. 圓型內(nèi)箱，不銹鋼圓型試驗(yàn)內(nèi)箱結(jié)構(gòu)，符合工業(yè)安全容器標(biāo)準(zhǔn)， 可防止試驗(yàn)中結(jié)露滴水設(shè)計；

2. 圓幅內(nèi)襯，不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設(shè)計，精密設(shè)計，氣密性良好；

3. 自動門禁，圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制，安全門把設(shè)計，箱內(nèi)有大于常壓時測試們會被反壓保護(hù)；

4. 型，箱內(nèi)壓力愈小時，會有反壓會使其與箱體更緊密結(jié)合，與傳統(tǒng)擠壓式*不同，可延長壽命；

5. 實(shí)驗(yàn)開始前之真空動作可將原來箱內(nèi)之空氣抽出并吸入過濾蕊過濾之新空氣。以確保箱內(nèi)之純凈度；

6. 臨界點(diǎn)LIMIT方式自動安全保護(hù)，異常原因與故障指示燈顯示。

7. 箱體材質(zhì):

1） 外箱材質(zhì): SUS304高級不銹鋼板或*冷軋板粉體烤漆.（電腦白色）

2） 內(nèi)箱材質(zhì): SUS304高級不銹鋼板.

3） 保溫材質(zhì): 高密度聚氨酯.

控制器系統(tǒng)：

1. 采用韓國進(jìn)口彩色型5.7寸或10.4寸*微電腦液晶顯示觸

控式屏幕直接按鍵型，中英文表示可程控器。

2. 微電腦 P.I.D 自動演算控制溫度.

3. 采用指針顯示正負(fù)壓表.

4. 全自動過程控制，操作簡單.

安全保護(hù)裝置：

1.工作室超溫保護(hù)裝置.

2.加熱器短路、過載.

3.壓縮機(jī)過流過熱保護(hù)裝置.

4.漏電短路器保護(hù)開關(guān).

5.鼓風(fēng)電機(jī)過載過流

6.壓縮機(jī)壓力保護(hù)裝置

高低溫低氣壓實(shí)驗(yàn)機(jī)執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)：

1. GB/T10589-1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件.

2. GB/T10592-1989高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件.

3. GB/ T 2421-1991《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 總則》.

4. GB/ T 2423.21- 1991《 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)M:低氣壓試驗(yàn)方法》 .

5. GB/ T 2423.25- 1992《 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》 .

6. GB/ T 2423.26- 1992《 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》 .

7. GB/2423.34-86.MIL-STD883（方法1004.2）高低溫組合循環(huán)試驗(yàn).

8. GB/T2423.4-93（MIL-STD810）方法507.2程序.